球差電鏡測試提供FIB,雙噴減薄等制樣服務視頻
15 內(nèi)標法應用采用已知晶格樣品如金顆粒在相同電鏡狀態(tài)下,通過測量相機長度,利用電鏡基本公式計算相機常數(shù),以供后續(xù)實驗使用16 軟件模擬菊池圖JEMS軟件支持模擬菊池圖,通過選中相應選項即可實現(xiàn)17 金屬樣品制備包括...
15 內(nèi)標法應用采用已知晶格樣品如金顆粒在相同電鏡狀態(tài)下,通過測量相機長度,利用電鏡基本公式計算相機常數(shù),以供后續(xù)實驗使用16 軟件模擬菊池圖JEMS軟件支持模擬菊池圖,通過選中相應選項即可實現(xiàn)17 金屬樣品制備包括...