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球差電鏡測試提供FIB,雙噴減薄等制樣服務視頻

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遇琰琬 2025-08-10 數碼 13 次瀏覽 0個評論

15 內標法應用采用已知晶格樣品如金顆粒在相同電鏡狀態下,通過測量相機長度,利用電鏡基本公式計算相機常數,以供后續實驗使用16 軟件模擬菊池圖JEMS軟件支持模擬菊池圖,通過選中相應選項即可實現17 金屬樣品制備包括金屬切片砂紙打磨沖圓片凹坑研磨雙噴電解和離子減薄FIB制樣等步驟18 四氧化鋨使。

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內標法使用已知晶格樣品如金顆粒,在相同電鏡狀態下,對應不同相機長度,通過電鏡基本公式計算出一組相機常數,以便后續測試中使用JEMS軟件可以用于模擬菊池圖金屬樣品的制樣包括金屬切片砂紙打磨沖圓片凹坑研磨雙噴電解和離子減薄FIB制樣等方法四氧化鋨溶液對彈性體進行染色,并使塑料硬。

TEM測試對樣品有以下幾點要求 粉末液體樣品均可,固體樣品太大了的需要離子減薄雙噴FIB切片制樣樣品必須很薄,使電子束能夠穿透,一般厚度為100~200nm左右樣品需置于直徑為2~3mm的銅制載網上,網上附有支持膜樣品應有足夠的強度和穩定性,在電子線照射下不至于損壞或發生變化樣品及其。

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